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FT-340 高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品名稱：FT-340 高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：FT-340

品牌：ROOKO瑞柯微

產(chǎn)品數(shù)量：

產(chǎn)品單價(jià)： 74676.00

日期:2024-08-19

FT-340 高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)的詳細(xì)資料

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

FT-351 high temperature four probe resistivity test system

一.概述：overview

采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置專用的高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，滿足半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求，的測(cè)控軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

Adopt four probe double electric combination test method to test square resistance and resistivity system . Combined with high temperature box for special high temperature four-point probe test probe jig with PC software for data processing and measurement control. Meet the test requirements of the conductivity of the semiconductor material to temperature change. Advanced measurement and control software to Real-time render the change curve of temperature and resistance, the resistivity, the electrical conductivity data,and process data values statement analysis.

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)二.適用行業(yè)：Applicable industry:

廣泛用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

Is widely used in: Corporate. colleges and universities and scientific research departments of conductive ceramics. silicon. germanium single crystal (bar. wafer) resistivity. The determination of silicon epitaxial layer and diffusion layer and ion implantation of square resistance as well as the measurement of conductive glass (ITO) and other new materials such as conductive films square resistance and resistivity and conductivity data.

雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

The double electric four-point probe is used to measure the four probes in a straight line.The design conforms to the national standard of the single-crystal silicon physical test method and the American A.S.T.M standard.

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)
三.型號(hào)及技術(shù)參數(shù)Models and technical parameters：

規(guī)格型號(hào)Models	FT-351A	FT-351B	FT-351C
1.方塊電阻范圍sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-6～2×105Ω/□	10-4～1×107Ω/□
2.電阻率范圍resistivity range	10-6～2×106Ω-cm	10-7～2×106Ω-cm	10-5～2×108Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍test current range	0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA	1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA	10mA ---200pA
4.電流精度current accuracy	±0.1%讀數(shù)	±0.1讀數(shù)	±2%
5.電阻精度resistance accuracy	≤0.3%	≤0.3%	≤10%
PC軟件界面 PC software interface	顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率 LCD: resistance.resistivity. sheet resistance. temperature.unit conversion. temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
7.測(cè)試方式test mode	雙電測(cè)量Double electrical measurement
8.四探針儀工作電源working power	AC 220V±10%.50Hz <30W
9.整機(jī)不確定性誤差/ machine uncertain errors	≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 standard samples）		≤15%
zui高溫度(選購(gòu))Highest temperature (choose and buy)	常溫 Normal temperature -400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
氣氛保護(hù)（氣體客戶自備） Atmosphere protection(Gas was provided by customers themselves)	常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無(wú)色、無(wú)臭、氣態(tài)的ink" target="_blank">單原子分子 The usual gases are: helium (He). neon (Ne). argon (Ar). krypton (Kr). xenon (Xe). and radon (Rn). all in colorless. odorless. gaseous monatomic molecules.
溫度精度 Temperature precision	沖溫值 Blunt temperature values：≤1-3℃；控溫精度 control precision：±1°C
升溫速度： rate of temperature increase	常溫開始400℃--800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘 about 15 minutes at room temperature to 400 ℃. 800 ℃;800 ℃ to 1200 ℃ need 30 minutes;1400 ℃ to 1600 ℃ to 250 minutes. 300 minutes
高溫材料 High temperature material	采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征Adopt composite ceramic fiber material. have vacuum forming. high temperature not drop powder
PC軟件 PC software	專用測(cè)試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！One set Special test PC software. USB communication interface. software interface synchronization display. analysis. save and print data!
電材料 Electrode materials	鎢電或鉬電 Tungsten electrode or molybdenum electrode
探針間距 The probe spacing	直線型探針，探針中心間距：4mm；樣品要求大于13mm直徑Linear probe. probe center spacing: 4mm;Sample requirements are greater than 13mm diameter
標(biāo)配外（選購(gòu)）： Except standard configuration (optional)	電腦和打印機(jī)1套；2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè)； 1 . One set computer and printer 2.Standard resistance 1 to 5pcs

配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀電阻、電阻率、電導(dǎo)率測(cè)量

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